二手 JEOL JEM 1230 #9390890 待售

JEOL JEM 1230是一種掃描電子顯微鏡（SEM），使用戶能夠擁有具有廣泛功能的高分辨率成像能力。這種顯微鏡能夠提供大量的分析技術，從測量微觀結構和粒子到元素分布映射。其更先進的能力包括高分辨率成像和分析不均勻的材料和物體。JEM 1230的基本部件包括液氮冷卻結晶陰極電子槍、高真空室、掃描發生器和高分辨率監視器。晶體-陰極電子槍用於產生送至樣品的電子。高真空室有助於使整個系統遠離任何雜散電子，從而使成像和分析能夠在清潔的環境中進行。掃描發生器用於控制和調節電子束，允許用戶調整放大和成像參數。高分辨率顯示器以清晰和高度詳細的圖像顯示結果。JEOL JEM 1230的分辨率可以達到非常高的5 nm成像和20 nm分析。這種高分辨率使用戶能夠以前所未有的細節級別查看微觀特征。此外,JEM 1230還能夠分析各種不同的樣品.這包括固體、液體甚至氣體的樣品。顯微鏡還能夠分析各個組裝階段的材料，例如厚度、形狀和尺寸不同的材料。JEOL JEM 1230還附帶了多種軟件包，幫助用戶分析他們的樣本。這些軟件包的範圍從自動化工具到圖形繪圖和數據分析程序。數據分析工具使用戶能夠更深入地了解他們正在分析的樣本的結構。此外，用戶界面非常直觀，使科學家更容易快速學習和利用軟件。這些特性加上易用性和多功能性，使得JEM 1230成為任何掃描電子顯微鏡用戶必備的工具。憑借其廣泛的功能和應用，JEOL JEM 1230能夠幫助科學家找到他們最復雜問題的答案。