二手 JEOL JEM 1400 Plus #293821997 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293821997
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INSTRUMENTS Xplore EDS detector
Pump
Chiller
PC.
JEOL JEM 1400 Plus是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對表面材料和固體樣品特征進行精確成像和分析測量。這款高性能儀器提供了豐富的功能和功能,能夠進行詳細的分析,包括改進的角質層、改進的分辨率、高真空操作、超高速掃描系統以及用於樣品分析的各種儀器。JEOL JEM 1400PLUS的高對比度圖像提供了卓越的圖像,能夠顯示原子和單個粒子的薄層。該儀器的New Focus超高顯示屏非常適合以高放大倍數顯示詳細圖像。其高真空操作保證了高分辨率圖像的產生與最小樣品變質.此外,New Focus掃描系統非常適合在較小的區域以高精度捕獲數據。隨著其先進的皮質，儀器能夠產生細節，即使在最高放大倍數。JEM-1400PLUS包括可根據用戶需求量身定制的各種儀器功能。其高Q/低 Q模式使用戶能夠調整對比度、亮度和電視增益，從而產生高對比度和低對比度圖像。它的高級掃描功能使用戶能夠在較大的區域上準確收集數據,並在同一屏幕上顯示多個幀。該儀器進一步配備了廣泛的電子和X射線探測器，用於成像和分析目的。JEOL JEM-1400PLUS非常適合各種研究和應用。其優越的成像能力可用於研究材料科學和生物學中的納米結構，其分析能力便於研究表面材料的物理和化學性質。儀器的高真空操作也確保了它可以被用於檢查航空航天和半導體應用的樣品。此外，其先進的能量過濾器使用戶能夠研究樣品的化學成分。
還沒有評論