二手 JEOL JEM 1400 Plus #9304360 待售

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ID: 9304360
Transmission Electron Microscopes (TEM) With OXFORD X-Max80 EDX.
JEOL JEM 1400 Plus是一種分析掃描電子顯微鏡(SEM)儀器,設計用於高分辨率成像、元素分析和材料形態的精確定量。憑借其廣闊的景深、卓越的成像能力以及先進的自動化功能,這款儀器在多個學科中都有多種應用。JEOL JEM 1400PLUS包括可變壓力和可變壓力(ESEM)模式,為用戶提供圖像樣品的多功能性,而無需進行化學修正或真空沈積。該系統包括一個LaB 6絲電子槍,以產生穩定的5.0 kV電子束,光斑大小在3納米以下。用於定位、聚焦和汙名化的最先進的自動化功能使操作JEM-1400PLUS快速而簡單。JEM 1400PLUS有一個特殊的鉸接列,允許樣本階段在視場內移動,顯示比其視場中包含的更大的樣本。此功能使樣品成像效率更高,尤其是在需要以不同放大倍數捕獲多個圖像時。通過包含色差校正器進一步提高圖像分辨率,該校正器可最大程度地減少色差造成的失真和圖像模糊。JEOL JEM-1400PLUS提供了一系列檢測系統,為用戶提供有關示例功能的信息。這包括一個半自動的能量色散X射線光譜(EDS)系統,產生高分辨率的能量色散光譜,用於樣品的定性分析和組成信息。1400 Plus中的EBSD探測器特別設計為用戶提供晶體和納米晶體材料的晶體取向映射。JEM 1400 Plus的單點分析模式(SPAM)允許用戶從單個區域收集多個分析地圖,並根據用戶預先指定的規範自動重新配置光束。最後,集成的陰極發光檢測器可以自動生成化學成分和極化圖等多種地圖。在電子顯微鏡領域的高端,JEOL JEM 1400 Plus是一款強大的分析工具,具有無與倫比的成像、元素分析和形態量化能力。
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