二手 JEOL JEM 1400 #293752726 待售

製造商
JEOL
模型
JEM 1400
ID: 293752726
Transmission Electron Microscope (TEM) GATAN Orius SC1000 / SC600 GATAN UltraScan 4000 Single specimen holder: ±26° High tilt specimen holder: ±70° Orius fastscan digital camera GATAN Ultrascan high-resolution digital camera Magnification range: 50x and 1,200,000x Power supply: 120 keV.
JEOL JEM 1400是一種精密的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高分辨率成像和分析各種科學和工業應用中的各種樣品。這種先進的儀器結合了尖端技術和用戶友好的功能,為研究人員、科學家和工程師提供了在微觀和納米尺度上可視化和表征材料的強大工具。在JEM 1400的心臟是一個電子柱,產生高能電子的聚焦束與樣品表面相互作用。SEM利用電子光學系統,包括電磁透鏡和光圈來操縱和控制電子束,以便進行精確的成像和分析。電子束以光柵模式掃描整個樣品表面,產生被檢測和處理的信號,形成具有非凡分辨率和對比度的詳細圖像。在高達120 kV的最大加速電壓下,JEOL JEM 1400可以實現高放大倍率,使用戶能夠以亞微米甚至納米尺度的分辨率可視化樣品。這種能力對於檢查常規光學顯微鏡無法觸及的精細表面結構、粒子和特征至關重要。儀器的高分辨率成像性能得到先進信號檢測系統的補充,如二次電子(SE)和反向散射電子(BSE)探測器,它們捕獲了從樣品發出的不同類型的電子信號。JEM 1400具有各種成像模式和技術,以滿足各種研究需求。除了SE和BSE成像等標準成像模式外,顯微鏡還提供高級功能,如用於元素分析的能量色散X射線光譜(EDS)、用於晶體學制圖的電子反向散射衍射(EBSD)和用於研究發光特性的陰極發光(CL)。這些技術使研究人員能夠獲得有關樣品組成、結構和微量和納米級特性的寶貴信息。此外,JEOL JEM 1400配備了創新的自動化和軟件功能,以提高用戶效率和生產力。顯微鏡直觀的用戶界面可以方便地控制成像參數、標本導航和數據采集。用於聚焦、柱頭和光束對準的自動化例程簡化了實驗工作流程,並確保了成像結果的可重復性。此外,強大的圖像處理和分析軟件工具使用戶能夠提取定量數據、執行粒子分析以及創建樣本的詳細可視化。JEM 1400是一種多功能可靠的儀器,滿足現代研究實驗室、學術機構和工業設施的需求。其穩健的設計、優異的成像性能和先進的分析能力,使其成為廣泛應用的不可或缺的工具,包括材料科學、納米技術、地球科學、生物研究和半導體分析。無論是研究微觀結構、表面特性還是化學成分,本SEM都提供高質量的成像和分析解決方案,以推動科學發現和技術創新。
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