二手 JEOL JEM 1400 #9199923 待售

JEOL JEM 1400是一種具有集成能量色散X射線分析儀（EDS）的掃描電子顯微鏡（SEM）。這是分析和材料科學研究的寶貴工具，使微觀結構的可視化和分析達到亞微米級的細節。它具有非常穩定和精確的自動化控制系統以及出色的分析能力。有多種SEM模式，包括低真空、現場觀測的可變壓力，以及用於檢查冷凍水合樣品的冷凍SEM。該儀器還包括一個用於定位樣品的自動化階段和一個用於裝載/卸載樣品、樣品到樣品的轉移以及通過諸如掃描離子顯微鏡（SIM）或二次電子自動質譜（SEAP）等遠程軟件操作的自動化接口。JEM 1400的工作電壓範圍為0.5kV到30kV，分辨率為2azim（角）。其橫向和垂直分辨率能力在1kV為0.7nm,在30kV為0.6nm。它還配備了柱內能量濾波器，提高了在較高電壓下較小幹擾的能量濾波能力。JEOL JEM 1400還包括電子束柱頭、數字信號處理、自動曝光協議功能、多樣本傳輸以及升級的圖像處理系統等功能。探測器陣列靈敏度高，包括二次電子探測器和反向散射電子探測器。二次電子檢測器具有較大的視野，允許在更大放大倍率下更快的成像。對於自動測量,JEM 1400包括一套計量軟件,以方便在多個軸上進行自動區域和線性測量,以及使用集成的EDS進行自動元素組成分析。同樣的自動化能力可以用於獲取二次電子元素和反向散射電子元素以及組成圖，使其成為有針對性的分析的理想選擇。總體而言，JEOL JEM 1400是一種用途廣泛、功能強大的掃描電子顯微鏡，適用於微觀和納米結構的各種分析和計量應用。其高效的自動化能力、精確的控制系統以及捕獲和分析各種樣品的能力,使其成為尋求高度先進能力的人們在母體科學領域的寶貴工具。