二手 JEOL JEM 2000EX MKII #9096281 待售

JEOL JEM 2000EX MKII是一種掃描電子顯微鏡（SEM），結合了高分辨率成像能力和多種環境能力。它可以分析空氣中的樣品，包括真空要求低的樣品、液體和-196°C至500°C的溫度。它具有+/-90°的偏轉角和5nm的光斑尺寸-允許廣泛的樣品分析要求。其視場範圍為2.2-1000 nm,具體取決於光束電流設置。JEM 2000EX MKII還配備了具有出色穩定性和增強性能的電子槍、提供低振動操作的獨特島柱、高穩定性4磁體物鏡和納米級分析設備。其模塊化設計融合了彩色物鏡校正系統、真空室和數字接口。納米級分析單元提供分辨率和像素大小,可創建清晰明亮的圖像,並具有出色的對比度。超高分辨率探測器機提供分辨率高達1 nm的超高分辨率圖像。它還包含一個列內二次電子探測器、一個固態探測器工具和一個反向散射電子探測器，用於對從離子到大結構的任何樣品大小進行成像。JEOL JEM 2000EX MKII由Celscan Pro操作資產提供支持,它允許用戶快速、輕松地訪問、存儲和分析數據。此操作模型提供自動掃描和數據采集、擴展圖像處理和圖像處理功能以及高級校準功能。多專用應用軟件提供圖像采集、圖像處理和分析工具，非常適合執行任何類型的樣本分析。JEM 2000EX MKII的構建是為了提供最大程度的易用性,使用戶能夠專註於科學結果。總之，JEOL JEM 2000EX MKII是一種先進而強大的掃描電子顯微鏡，非常適合任何需要高分辨率、多重環境能力和穩健操作的應用。其多功能性和多功能性特征集使其成為廣泛實驗室和研究應用的絕佳選擇。