二手 JEOL JEM 2000FX II #293636585 待售

JEOL JEM 2000FX II是一種在納米結構材料、生物醫學工程和材料科學領域進行高級研究的高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。它提供接近原子尺度的分辨率，有助於可視化晶體和非晶體材料的微觀結構。它具有獨特的配置，結合高角度鏡頭內二次電子（SE）探測器和計算機控制的樣品級，支持自動化觀測能力。鏡頭內SE檢測器允許低放大成像和成像，最高分辨率為1.7 nm（在20 kV加速電壓下）。該探測器還能夠對非導電材料進行成像。JEM 2000FX II的整體放大倍率為3,000-400,000 X,利用了一種具有單色儀的大功率120 kV野外發射槍,提供了一個長距離工作物鏡。抽樣階段可以進行機動，以便在大面積上自動制圖標本。利用自動階段映射，可以對一個樣本的相同區域進行多次掃描，生成更高分辨率的圖像。包括SEM控制軟件以簡化手動操作。JEOL JEM 2000FX II是一個直觀且用戶友好的成像和表面分析系統。圖像的可視化可以轉換為數字格式，以便進一步分析和提高圖像質量。擴展成像選項包括亮場、暗場、假色、偏振光和3D成像。支持若幹采集模式以實現最佳成像,例如高速、大面積和單幀采集模式。顯微鏡還配備了用於EDX和XRF分析的自動化設備。這允許通過檢測樣品和光束之間相互作用產物的電磁輻射對樣品進行化學和元素分析。此外，低真空成像模式支持所有這些分析操作，同時最大限度地減少離子散射和幹涉模式的不利影響。為確保易於使用，JEM 2000FX II設計了一個單一的顯微鏡柱和六個探測器，可以組合在一個單元或單獨安裝的多合一探測器。它具有人體工程學設計，帶有PC控制的圖形用戶界面，由外部安裝的PC供電。通過直觀的工作流程和操作友好的設計,它可以幫助提高研究工作效率。