二手 JEOL JEM 2000FX #9239696 待售

JEOL JEM 2000FX是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米級結構的高級成像和分析。它擁有高分辨率探測器、可變壓力操作和各種樣品安裝選項。JEM 2000FX具有3.5兆像素的高分辨率探測器，能夠產生分辨率為0.6納米的工作樣品圖像。這允許對小型納米級物體進行詳細的成像和分析。另外，檢測器可以檢測二次電子、反射電子和發射電子。這種多光束系統的設計使圖像采集和處理比以往任何時候都更容易、更快。JEOL JEM 2000FX能夠在可變壓力和高真空模式下運行。通過改變顯微鏡腔內的壓力，可以控制電子入射束與樣品之間的相互作用，從而實現更好的分辨率。此外,由於具有額外的二次中和能力,成像過程也可以得到改進。JEM 2000FX還提供了廣泛的樣品安裝選項,包括冷凍SEM、旋轉盤和準備階段。這些特征允許對各種樣品，如生物標本或微結構進行有效的成像和分析。最後，顯微鏡附帶了一系列先進的軟件選項，如3D斷層掃描、光譜分析或粒度測量，使研究人員能夠快速準確地分析和處理他們的工作樣本。總之，JEOL JEM 2000FX是一種先進的掃描電子顯微鏡，設計用於納米級樣品的高級成像和分析。它能夠產生高分辨率的圖像，並為樣品安裝和軟件分析提供多種選擇，使其成為納米級研究領域任何人的理想選擇。