二手 JEOL JEM 2000FX #9265721 待售
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ID: 9265721
Transmission Electron Microscope (TEM)
Low magnifications: < 20,000x
Diffraction contrast imaging
With small objective aperture
Electron diffraction patterns
Dynamic range patterns
Accelerating voltage: 80 - 200 kV
Magnification: 1000000x
Lab 6 source:
Point image: 0.28 nm
Lattice image: 1.4 nm
Eucentric side entry goniometer stage
Specimen size: 3 mm
Tilt angle: Up to 25° (Double tilt holder)
Specimen holders:
Single tilt
GATAN Double tilt: +25°C.
JEOL JEM 2000FX是一種場發射型掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供高分辨率成像,以及分析能力。JEM 2000FX的強大性能使其成為最受歡迎和最可靠的掃描電子顯微鏡之一。JEOL JEM 2000FX的放大倍率提高了120萬倍,有效放大了1000X,使用戶能夠以非常高的詳細程度查看樣本。這款顯微鏡還配有自動化的柱頭設備,可以讓用戶快速準確地調節電子槍的位置,以及物鏡的孔徑。JEM 2000FX配備了一系列成像和分析能力,包括反向散射電子成像和光譜、源選擇二次電子成像、環形暗場成像和X射線光譜。顯微鏡配有能量過濾系統,可以有效地排斥進入的電子,同時允許高能電子通過。這允許用戶執行各種各樣的分析,如化學和元素映射、相位分析、應變測量和光譜學。此外,JEOL JEM 2000FX還配備了先進的電子光學單元,其中包括一個場發射槍和兩個多孔徑冷凝器透鏡。這臺機器顯著減少了色差和電失真,提供了卓越的分辨率和對比度圖像。顯微鏡還包括一個雙電子槍工具,它允許使用兩個不同的槍位置對兩個不同的區域進行模擬成像和分析。JEM 2000FX也易於操作,具有完全集成的用戶界面,具有觸摸屏控制和數據處理功能。這使得用戶可以簡單地快速高效地獲取SEM映像、分析數據以及為將來的應用程序進行處理。顯微鏡配備了一個自動化的樣品安裝資產,使用戶能夠快速和輕松地加載和分析樣品。總體而言,JEOL JEM 2000FX是一個功能強大且可靠的工具,旨在為用戶提供最高級別的成像以及廣泛的分析功能。這種先進的掃描電子顯微鏡是希望達到最高分辨率和準確度的研究人員的理想選擇。
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