二手 JEOL JEM 200CX #293751172 待售

JEOL JEM 200CX是一種適用於樣品分析、成像和檢查的超高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）。該200CX采用先進的赤鐵礦FE-SEM電子柱和分析儀類型的超高分辨率（UHR）顯微鏡級，使用戶能夠以大約0.3納米的最大橫向分辨率和0.8納米的傳輸分辨率捕獲圖像。該200CX還提供了極好的真空穩定性和磁場發射能力，可以維持真空水平長達24小時。JEOL JEM 200 CX的低功率範圍是，在其最寬的孔徑下，2kV和20nA，其高功率範圍在160kV和20nA上是最寬的。在500kV和40nA可用的情況下,可以實現更高的放大倍率。200CX為用戶提供2.6x10-6 torr的高真空壓力，提供出色的圖像穩定性和對比度。該200CX采用綜合牛津儀器EDX系統，允許用戶對樣品進行元素分析。該200CX具有四軸操縱桿和自動X-Y級,使用戶能夠快速準確地定位所討論的示例。采用了先進的超高分辨率SEM級,提供了0.3納米的出色分辨率,而內置的偏轉控制系統使圖像的調整更加清晰。該200CX還設有一個外部拋光樣品支架，用於放置正在檢查的樣品，以便直接觀察樣品表面和其他細節。用戶還可以從3-D成像和大視野中獲益,這是因為200 CX對樣品表面具有高速度掃描功能。此外，200CX有手動對焦控制和自動取樣位移控制，可設置在與顯微鏡相同的軟件包中，使用戶可以控制對焦，更準確地定位和分析舞臺上的取樣。總之，JEM 200CX是一種超高分辨率掃描電子顯微鏡，適用於樣品分析、成像和檢查。該200CX具有良好的性能和特點,如2.6x10-6 torr的高真空壓力、用於元素分析的Oxford Instruments EDX系統、集成的四軸操縱桿和自動X-Y級控制、外部拋光樣品支架以及0.3納米的最大橫向分辨率。這使200CX成為研究人員和科學家尋求高度通用和可靠的SEM的絕佳選擇。