二手 JEOL JEM 200CX #9240853 待售
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ID: 9240853
Transmission Electron Microscope (TEM)
Non-functional
Circuit boards
Digital camera non-functional
No EDS
(2) Holders: Single tilt & double tilt
Does not include chiller.
JEOL JEM 200CX是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.該200CX采用「超高分辨率」場發射源，提供出色的分辨率和對比度，最大分辨率為4納米。SEM具有球面像差校正器（C）,用於提高圖像分辨率和更高放大倍率時的對比度。該200CX包括一個高性能的能量色散光譜（EDS）檢測器，用於對樣品進行高級元素分析。EDS檢測器能夠顯示從Be到U的所有元素,並提供有關樣本組成的詳細信息。顯微鏡還包括一個STEM（掃描透射電子顯微鏡）的特征，利用透射成像提供了改進的分辨率和對比度。顯微鏡的其他功能包括一個自動樣品處理階段，便於樣品裝卸，以及一個數字成像系統，便於捕捉和記錄圖像。該200CX可以達到每秒75步的樣本掃描速度,並且可以在每張圖像不到15秒的時間內實現圖像捕獲。JEOL JEM 200 CX SEM提供了廣泛的應用，如材料元素分析、表面分析、故障分析和三維成像。它具有多種多樣的設計和多種功能,使200CX成為滿足各種分析需求的絕佳選擇。例如，高分辨率成像能力適合於檢查納米尺度的特征。此外,EDS檢測器使用戶能夠識別和量化樣本中的不同元素。該200CX是一種可靠、可靠的SEM,易於操作和維護。其符合人體工程學的設計可以方便地訪問所有組件，其鑄造的金屬底座提供了更高的穩定性。此外,Ultra-High Resolution模式和C s校正器的結合提供了卓越的成像功能。
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