二手 JEOL JEM 200CX #9243562 待售

JEOL JEM 200CX掃描電子顯微鏡是一種用於研究納米級材料和生物樣品的高性能分析儀器。這種多用途設備具有高穩定性、低電壓、鏡內場發射電子源，能夠以高分辨率分析軟材料和厚樣品。它具有直徑180毫米的腔室大小,以及四軸導航結構,可在廣泛的視場上進行光束掃描。200 CX的二次電子（SE）檢測器允許對試樣表面特征進行低對比度分析，而反向散射電子（BSE）檢測器可用於更高對比度成像。離子提取系統也可用於對樣品表面區域進行低損傷分析。JEOL 200CX能夠在SE模式下產生優於0.8 nm的成像分辨率，在BSE模式下產生優於1.2 nm的成像分辨率。它具有內置的張力補償電源，可以在2 nA至20 nA的光束電流下工作，用於X射線光束激發。此外，系統可以檢測2.5 keV至22 keV的X射線波長。一個可選的肖特基場發射電子源也可以添加到單元中，提高SE和BSE模式下的成像分辨率。該200CX具有廣泛的附加功能和功能。一臺集成的數碼相機可用於支持視頻和數字成像應用。該工具還包括一個自動標本-自動標記對齊資產，以及一個用於自動掃描和數據采集的模型控制器。它具有一套強大的軟件,可用於用戶控制。而且，以SE、BSE或X射線等不同模式收集的數據可以靈活組合，形成圖像組合，用於三維分析和可視化。總體而言，JEOL JEM 200 CX為納米材料和生物研究提供了廣泛的特點和優勢。憑借其精心設計的設計和先進的性能能力，200CX是一個理想的顯微鏡設備，為研究人員誰需要可靠的，高精度的結果。