二手 JEOL JEM 2010F #293585832 待售
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ID: 293585832
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
UHR Objective pole
Spherical aberration coefficient: 0.5 mm
Point-point resolution: 0.19 nm
Information limit: 0.1 nm
Energy resolution: 133 eV
SiLi detector
Resolution imaging
Collection angle: 0.13 Sterad
Take off angle: 20°
Phase resolution: 100 rad
JEOL Bi-Prism electron holographic measurements
Medium and low magnifications
EDS
EELS
K2
Power supply: 80 kV-200 kV.
JEOL JEM 2010F是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），為研究人員、技術人員和行業專家提供亞微米特征級分析所需的工具。針對各種材料分析、微米級觀測、缺陷分析和自動化操作對JEOL JEM-2010F進行了優化。JEM 2010F提供非常高分辨率的小樣品成像，包括幹燥和液體形式的材料。它能夠分析一系列樣本大小，從1微米孔徑到200微米範圍。通過JEM-2010F提供的大深度景深,可以以高達150,000X的高放大倍率捕獲詳細圖像。高分辨率和景深相結合，可以檢測到表面和地下的高對比度特征，如夾雜物、腐蝕、晶界和晶體缺陷。JEOL JEM 2010F還提供了一系列自動化顯微鏡功能，這些功能通過先進的軟件技術得以實現。JEOL的自動化功能JEM-2010F為用戶提供許多有用的選擇，包括結合從分析的多個階段獲取圖像，同時處理多個樣本，以及使用各種工具來控制掃描過程。JEM 2010F還包括一系列樣本和分析類型的高級信號分析選項。JEM-2010F提供的信號分析工具可用於分析信號模式、色度變化和熱圖，以極小的尺度檢測材料微觀結構的變化。JEOL JEM 2010F的性能因其智能控制設備（ICS）而進一步提升。ICS結合了人工智能，以確保系統每次運行都能正常工作，並優化成像。智能單元還允許全自動測量場景,為用戶提供更快的成像速度、更高的吞吐量和更一致的結果。總之,JEOL JEM-2010F是一種先進的SEM,具有多種功能,可實現實時成像,並具有豐富的詳細信息。自動成像和信號分析功能提供了一系列功能強大的工具,可確保高質量的結果,而智能控制機器則可在每張圖像中提供可靠性和精確度。
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