二手 JEOL JEM 2010F #293590723 待售

JEOL JEM 2010F是一種環境掃描電子顯微鏡（ESEM），用於多種樣品類型的高分辨率成像。這種先進的設備能夠產生高達20海裏的生物和無機樣品的高分辨率圖像。顯微鏡具有可變壓力室，允許對非導電材料成像，最大限度地減少非導電樣品的充電效果。JEOL JEM-2010F配備了野外發射槍和高分辨率、改型、LaB6-type陰極。電子束的能量是可調的，允許各種樣品類型的最佳成像。JEOL機上的X射線微分析儀能夠提供有關樣品組成的原子級信息。顯微鏡是完全自動化的，包括一個機動導航系統，以確保樣品的位置和導航的準確性。通過使用各種標準鏡片和光圈,可以進一步調整樣品以實現最佳對比度和分辨率。JEOL非常適合諸如照相顯微鏡、生物樣品成像、金相分析、陶瓷和晶體微結構、工程陶瓷樣品分析和研究等應用。JEM 2010F主級的溫度範圍為0-50 °C,可選的低溫選項的範圍為-160至105 °C,可提供多種成像應用。采用低溫技術，顯微鏡適用於冷凍樣品成像，非常適合組織學等醫學應用。JEM-2010F是一個非常強大和全面的軟件包,能夠滿足最苛刻的成像要求。其廣泛的能力使其有資格在研究、工業和醫學領域的廣泛應用。