二手 JEOL JEM 2010F #293621943 待售

JEOL JEM 2010F是一種掃描電子顯微鏡，設計用於高分辨率的應用範圍廣泛的樣品。它具有出色的靈敏度、穩定性以及視標本而定的高達一百萬倍的觀測放大倍數。場發射電子源保證了高質量的圖像與低光束引起的損害樣品。JEOL JEM-2010F采用低真空室設計,不需要水冷,並將維護降低到最低水平。這種掃描電子顯微鏡具有極高的穩定性，信噪比為200：1，確保圖像清晰和無失真測量。此外，JEM 2010F具有高度靈活的觀測模式，具有檢測反向散射電子、二次電子、非彈性電子、光電子和俄歇電子的能力。結合大量的探測器選擇，該設備能夠分析各種樣品類型。JEM-2010F還配備了一系列先進的技術和配件，以增強其成像能力。其中包括允許以兩種不同方式同時成像的雙光束系統,例如SEM/TEM或STEM/EDX。高級分析股（AAS）選項可自動收集分析數據。另一個有用的功能是用戶友好的樣品處理機，它使樣品和樣品持有者在觀察過程中易於交換。總體而言，JEOL JEM 2010F是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠對各種樣品進行詳細調查。它的先進技術使其成為廣泛研究和分析的理想工具。