二手 JEOL JEM 2010F #293684029 待售
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JEOL JEM 2010F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），允許用戶以接近原子級的分辨率查看樣品表面。該設備提供卓越的圖像質量,具有清晰度、橫向分辨率和高達30萬倍的視角深度。該裝置還提供了一個內置的環境室，使人們能夠就地研究氧化、脫水、塗層和薄膜沈積等過程。JEOL JEM-2010F使用電子源生成電子束。光束被加速並聚焦在掃描樣品表面的磁場透鏡上。檢測器將樣品中散射的電子轉換為圖像,然後將其顯示在顯示器上或發送到打印機。真空系統是器件的核心，負責實現SEM運行所需的條件。該系統在SEM室內部創造出壓力小於10-6 torr的高真空環境。真空系統還確保電子不與背景氣體相互作用，從而產生更詳細的圖像。SEM配備了強大的計算機，用於獲取、存儲和操縱電子束產生的數據。這允許用戶輕松訪問數據、分析數據以及生成復雜的圖形和動畫。SEM包括多種成像模式，包括高分辨率和可變壓力模式，適用於各種樣品和應用。一系列軟件可用於分析圖像和自動化流程，以優化結果。JEM 2010F是一種高度通用和用戶友好的掃描電子顯微鏡。它提供出色的圖像質量和一系列功能,可滿足廣泛的應用要求。
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