二手 JEOL JEM 2010F #293805112 待售
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ID: 293805112
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Orius camera
OXFORD X-Max EDS
HAADF
PEELS
GATAN Double tilt
Simple tilt holder
Ionic pump
Hard Disk Drive (HDD)
PC.
JEOL JEM 2010F是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.它能夠以高達150,000倍的倍數生成極其詳細的表面結構圖像。JEOL JEM-2010F利用鏡內型場發射槍（FEG），提供高亮度電子束和低電子束光斑尺寸。這樣可實現小至0.3 nm的次nm分辨率成像,並確保圖像的出色對比度和清晰度。它設計為在低壓下工作，以增加靈活性和安全性。JEM 2010F包括一個集成的可旋轉EBSD探測器，允許同時觀察和分析晶體學特性。它還具有反向散射電子探測器和各種數字成像能力。設備提供的軟件可實現自動圖像縫合、三維分析以及自動導航和斷層掃描。JEM-2010F具有可變傾斜的電動采樣級,可實現高分辨率成像以及自動SEM掃描。工作距離可調整至200毫米長工作距離成像。舞臺還包括一個9軸電動系統，用於自動掃描和導航，以及一個攝像機控制操作樣品。JEOL JEM 2010F提供了廣泛的功能,旨在確保獲得高質量的成像。它包括一個真空單元，具有增強的泵送速度和最小化的排氣，以及離子和電子槍加熱，以提高束的穩定性。該機器還配備了自動視頻安全工具和集成的自動去聚焦設備。JEOL JEM-2010F是一種通用的掃描電子顯微鏡，具有廣泛的特點，便於高分辨率成像和分析。其集成軟件、電動采樣級和EBSD檢測器提供強大的功能，使其成為電子顯微鏡應用的理想選擇。
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