二手 JEOL JEM 2010F #293820051 待售
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ID: 293820051
優質的: 2002
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field emission source
Cryo pole piece
Cryogenic imaging support
Cryo tomography capability
High Contrast Objective Aperture (HCOA)
Super MDS (Minimal Dose System) for low-dose cryo imaging
200 kV Field Emission Gun (FEG)
Acceleration voltage range: 80–200 kV
Point resolution (TEM): 2.7 A
Lattice resolution (TEM): 1.4 A
Gatan K2 camera
Optimized for low-dose cryo-EM
Suitable for cryo-tomography
Stage tilt +/- 45 degrees with standard JEOL holder
Stage tilt +/- 20 degrees with Gatan 626 cryo holder
XY movement with double tilt holder
Complete vacuum system
Standard sample holders
2002 vintage.
JEOL JEM 2010F是一種高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）,具有高通量電子源、先進的成像能力和多種用戶模式。憑借其精細的鏡頭技術，JEOL JEM-2010F的分辨率高達2納米，放大倍率高達25萬。JEM 2010F是一種可變壓力儀器，允許中低真空操作。這樣就可以對樣品進行檢查，而不需要用導電材料塗層，保留精致的材料。它具有快速、方便的高、低真空模式切換功能。一個旋轉的陽極X射線源提供信號增強，允許增加的細節和景深成像。真空腔室樣品級為樣品分析提供了一個穩定的平臺，機械手臂為樣品的精確定位提供了最佳成像。二次電子探測器安裝在樣品上，可用於測量表面地形和創建3D浮雕圖像。JEM-2010F具有雙重成像系統，可同時操作二次電子和反向散射電子探測器。這為用戶提供了有關樣品中元素的原子組成和濃度的信息。能量色散X射線光譜（EDS）可用於以納米精度映射樣品的元素組成。一個完整的室內離子源提供樣品清洗和深度分析。這套成像和分析功能，加上用戶友好的操作，使得JEOL JEM 2010F一個強大的掃描電子顯微鏡。它擁有一整套工具，可以開發高級成像和分析應用程序。這種顯微鏡是微觀分析、光譜成像等的理想選擇。
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