二手 JEOL JEM 2010F #9184351 待售

JEOL JEM 2010F是為廣泛的應用領域而設計的高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。這種最先進的SEM結合了分辨率降至0.4nm的20mm2視場和10-9 Pa的腔室壓力，這使得它非常適合納米級材料的高分辨率成像。SEM強大的設計使系統能夠處理低電壓和高壓成像,非常適合廣泛的應用。JEOL JEM-2010F可以在0到30 kV的大範圍電壓下工作，對於非導電樣品也能夠在可變壓力模式下工作。此SEM具有一個傾斜階段,允許在任何角度進行樣品觀察。JEM 2010F允許標準電子檢測和反向散射電子成像。利用其5個傾斜的鏡頭內STEM檢測器，顯微鏡允許同時成像各種材料和特征。此外，它的二次電子傳感系統允許精確的復合成分映射。直觀的用戶界面和強大的自動化功能簡化了JEM-2010F的操作。這樣可以快速高效地成像,而且用戶幹預最少。此外，JEOL JEM 2010F與一套後處理和分析工具集成在一起，提供從成像到分析的完整工作流程。這包括測量表面拓撲、組成、晶粒大小、層厚度和摻雜濃度等多種性質的能力。JEOL JEM-2010F是高分辨率成像和復雜樣品分析的理想選擇。其廣泛的功能,加上強大的設計和強大的用戶界面,使JEM 2010F成為各種應用程序的理想解決方案。