二手 JEOL JEM 2010F #9235270 待售

JEOL JEM 2010F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM）,其設計目的是滿足各種應用中的高級成像和分析需求。該設備配備先進的光學器件,即使在低加速電壓下,也能提供分辨率最高、聚焦深度更高的圖像。JEOL JEM-2010F配備了多種技術，以最大限度地提高成像效率。該柱利用20毫米偏轉電子光學系統，在提供無與倫比的分辨率、對比度和圖像清晰度的同時，減少單元載荷和掃描失真。此外，自動化的FEG控制、獨特的信號檢測/校正電路，以及增加光束劑量的能力，使得即使是最具挑戰性的樣本也能優化成像。JEM 2010F還集成了卓越的硬件和軟件組件,以適應從EDXRF到EBSD/EPMA的一系列分析功能。集成的EDXRF機器執行快速X射線分析,而內置的EBSD/EPMA工具允許對各種無機和有機材料（包括半導體和納米材料）進行表征。關於用戶友好性，Easy Auto-Focus（EAF）功能使顯微鏡的操作變得簡單而輕松。EAF模式非常適合處理表面特征參差不齊的樣品。資產的穩定性監測儀還確保樣品保持在不斷的觀察之下，並允許儀器在較長時間內的可靠操作。JEM-2010F掃描電子顯微鏡結合了尖端技術和用戶友好的特點，是廣泛的科學和工業應用的理想儀器。通過提供最高級別的圖像質量和分析性能,此模型的設計超出了要求最苛刻的成像要求。