二手 JEOL JEM 2010F #9253109 待售

JEOL JEM 2010F是一種具有卓越成像能力的先進掃描電子顯微鏡（SEM）。該系統提供高質量的大放大圖像,分辨率高達0.2nm。這是通過冷場發射源和特殊的低振動技術實現的，從而產生更好的對比度和更高分辨率的圖像。該2010F的自動化裝載系統使樣品能夠快速地從支架轉移到成像室，從而能夠快速制備樣品。有多種樣品制備方法，如水蒸氣真空測量和DEBIE™濺射塗層。該2010F包含各種分析功能,可用於高性能成像。能量色散X射線光譜（EDS）可用於樣品的元素分析。EDX映射可用於在樣本表面上映射組成分布。該2010F帶有一個可自定義的圖形用戶界面（GUI）,可以快速訪問顯微鏡的設置和選擇最合適的成像參數。該2010F具有200毫米的單軸傾斜大腔室尺寸，使得大面積映射速度快、效率高。該系統還有一個檢測器級，可旋轉360°，從多個角度監測樣品。該2010F可用於各種行業，包括醫藥、材料科學、納米技術和電子。適用於多種樣品類型，從生物樣品到有機和無機物質。該2010F的設計只需要最低限度的維護。低功耗、高可靠性；平均2010F是廣泛應用的理想選擇。