二手 JEOL JEM 2010UHR #9240146 待售
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JEOL JEM 2010UHR掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的高分辨率成像儀器，設計用於各種樣品分析。JEM 2010UHR是一種UHR SEM儀器，具有高達200 kV的加速電壓和高對比度和高通量成像性能。顯微鏡有一個大的標本室，可以容納直徑可達250毫米的一系列樣本。它還集成了專有的鏡頭內檢測器，在低kV和高壓操作下提供了出色的圖像質量。這允許觀測具有低導電和絕緣材料的完整納米級結構。SEM還提供了獨特的技術組合，包括：環境和分析操作、相位對比、切片、傾斜序列采集和層析成像，用於詳細的三維重建。這些技術可用於檢查各種材料，包括金屬、絕緣體、聚合物和生物樣品。該儀器集成了幾種允許先進成像能力的技術，如柱內能量濾波成像（IEF）、電子反向散射衍射（EBSD）、飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）、波長色散X射線光譜（WDS）、電子能量損耗光譜（electron-sorse）。JEOL JEM 2010UHR具有一個大的腔室法蘭，允許交換各種各樣的樣品持有者和標本持有者。它配備了自動化階段，允許地形掃描、線路掃描、粒子計數等自動操作。此外，還包括μFly™自動傾斜，允許自動改變傾斜角度而不會破壞真空。該儀器還配備了一個可移動樣品制備階段（RSP），可進入一系列樣品制備部件和附件。這允許樣品塗層，例如用金、碳或鉑來改善電子透射率圖像的質量。此外，JEM 2010UHR還提供多種原位成像配件，如低溫冷卻器、執行大氣冷卻和加熱的不同腔室、高壓級、腐蝕室和電磁懸浮器。總體而言,JEOL JEM 2010UHR是一個具有強大功能的成像怪獸,可用於從簡單成像到復雜分析的廣泛應用。它提供了一整套成像和分析技術，以便在各種材料中進行全面的樣品分析。
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