二手 JEOL JEM 2011 #293736860 待售

JEOL JEM 2011是一種超高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供一系列樣品中精細細節的無與倫比的成像。其先進的光學和電子技術可實現1nm分辨率的高速和高分辨率成像。JEM 2011利用獨特的低真空真空場發射（VFEM）源和高分辨率多光束平臺,實現更快、更明亮、更均勻的成像性能。SEM結合了傳統TEM（透射電子顯微鏡）關聯的景深淺和只有SEM才能實現的景深大。利用能量色散X射線光譜（EDX）、超音速成像（SI）和波前優化成像（WOI）等新成像技術，JEOL JEM 2011提供了樣品中元素的高對比度圖像。EDX可用於檢測樣品中元素的痕跡，其譜線模式可提高分辨率和靈敏度。JEM 2011還利用先進的CCD技術，以高分辨率捕捉大型圖像。CCD會自動捕獲高對比度和低對比度圖像,從而消除手動調整。此外，其優化的著色系統使得處理和準確的信號純度更容易。JEOL JEM 2011為需要更高層次分析的高級研究提供了一個可變的高壓加速系統，該系統能夠2.5kV+/-0.25V，從而能夠研究不同能級的樣品。此外,JEM 2011還提供高穩定性和低漂移,即使在較高的加速度下也能實現最佳成像。JEOL JEM 2011因其簡化的操作界面，使用快捷方便。其用戶友好的菜單、圖標和觸摸面板功能可提供無縫體驗。此外，掃描和成像性能經過了高性能和質量的測試和認證。總體而言,JEM 2011提供了具有低漂移、低真空和高樣品吞吐量的超高分辨率成像和高級分析功能,非常適合進行詳細而準確的研究。高度用戶友好的操作和充足的支持功能使其成為研究的理想工具。