二手 JEOL JEM 2100 LaB6 #293827498 待售

ID: 293827498
Transmission Electron Microscope (TEM) DP Pump SIP Pump HT Tank HT Cable RP Pump Compressor Cables DPP EDS EDS Dongle Valve box CCD Camera Gun with inlet GATAN Orius 833 CCD Left panel with boards vacuum board: PEG, HT Right panel with lens boards and lens gate: CC, DEF Single tilt sample holder Beryllium double tilt sample holder PC.
JEOL JEM 2100 LaB6是一款多功能、功能強大的掃描電子顯微鏡(SEM),擁有廣泛的先進功能和適合各種研究和工業應用的能力。該儀器配有LaB6電子源,具有高分辨率成像和分析性能,是納米技術、材料科學、生物學和其他需要在微觀和納米級精確成像和分析的領域不可或缺的工具。JEOL JEM 2100中的LaB6陰極產生高亮度電子束,使顯微鏡能夠實現卓越的分辨率和成像能力。該SEM的最大加速電壓高達200 kV,能夠將特征分解到亞納米級,使研究人員能夠以無與倫比的清晰度研究精細的結構細節和表面地形。LaB6源還提供穩定和可靠的電子發射,確保在延長成像過程中保持一致的性能,並最大限度地減少維護和重新校準的停機時間。JEOL JEM 2100配備了一整套成像和分析能力,以支持廣泛的研究應用。顯微鏡具有先進的探測器,包括Everhart-Thornley二次電子探測器和固態反向散射電子探測器,能夠對表面形態和元素組成進行高分辨率成像分析。此外,該儀器還配備了能量色散X射線光譜(EDS)系統,用於元素映射和量化,使研究人員能夠對具有高空間分辨率的樣品進行詳細的化學分析。除了成像和分析能力外,JEOL JEM 2100還提供了一系列先進的操作模式和成像技術,以滿足研究人員和工業用戶的多樣化需求。顯微鏡支持多種成像模式,包括高真空、低真空和環境SEM模式,允許在不同環境條件下對樣品進行可視化。該儀器還具有掃描透射電子顯微鏡(STEM)成像、電子衍射和原位實驗能力等先進成像技術,為用戶提供了一個用於表征材料特征和研究納米級動態過程的綜合工具包。JEOL JEM 2100采用用戶友好的界面和直觀的軟件設計,便於操作和控制顯微鏡進行例行成像和分析任務。該儀器配備了精密的自動化功能,如自動對焦、自動汙名化和自動對準功能,簡化了工作流程,優化了成像性能。顯微鏡還通過集成軟件平臺支持數據采集和分析,允許用戶實時處理和可視化成像數據,生成詳細報告供研究和出版。總體而言,JEM 2100 LaB6掃描電子顯微鏡代表了在納米技術、材料科學和生物研究領域進行高分辨率成像和分析表征的尖端工具。該儀器具有先進的電子源、成像探測器、分析能力和方便用戶的操作,為研究人員和工業用戶提供了一個多功能平臺,用於研究微米級和納米級的材料和結構,其清晰度和精確度非常高。
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