二手 JEOL JEM 2100 #293822851 待售

JEOL JEM 2100掃描電子顯微鏡（SEM）是一種世界領先的分析儀器，性能無與倫比，使用戶能夠看到前所未有的微米和納米大小的粒子。JEM 2100能夠在更高的放大倍率下實現低至0.2 nm的分辨率,並且可以用於生成具有納米級分辨率的樣品的3D數據集。其高度可調的放大倍率允許用戶精確研究他們可能無法觀察到的細節。JEOL JEM 2100使用了一種新型的肖特基發射槍，能夠實現比傳統熱電子發射槍更高的分辨率。這使得JEM 2100在更高的放大倍率下實現了前所未有的0.2 nm分辨率，從而大大擴展了納米材料的結構數據和成像。此外，JEOL JEM 2100還配備了一個Cs校正器，通過校正球面和色差效應提高了成像分辨率。JEM 2100的先進探測器允許改進信噪比。洪水槍探測器、EDAX EDX探測器和成像探測器可以方便地檢測樣品的元素和結構數據。這使用戶能夠在各種材料上快速生成數據集和圖像。電子束也可以修改以達到不同的效果。一個冷凝器透鏡修改允許用戶聚焦電子束以獲得一階拉普拉斯形狀。此效果可用於創建提供三維視圖的示例的精細細節的3D數據集。JEOL JEM 2100還具有自動化階段,允許在成像時精確移動樣品,從而使數據收集過程更快、更高效。自動化階段允許用戶定義要成像的區域以及數據收集的掃描速率。JEM 2100充分融合了自動化和新穎的特點，使其成為研究和質量控制的理想工具。其先進的探測器、高分辨率、自動級和冷凝器鏡頭改裝都走到了一起，形成了強大的STEM。這種多功能性使得JEOL JEM 2100成為分析各種材料結構細節的理想選擇。