二手 JEOL JEM 2100 #9284631 待售

JEOL JEM 2100是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在為研究人員提供一個強大的工具來可視化和分析小於500 nm的微小物體。它具有多種功能,使其成為許多研究應用程序的理想選擇。JEM 2100配備了鎢陰極發光探測器，為低能電子提供了非凡的對比度分辨率。這使研究人員能夠準確地確定物體的物質組成。高分辨率成像可以被高靈敏度點探測器所促進，讓研究人員深入觀察微小的結構。JEOL JEM 2100還提供高真空水平的樣品檢查。大多數常規電子顯微鏡需要樣品制備，如化學塗層，而JEM 2100可以提供出色的結果，而不需要樣品制備。這樣可以節省時間,提高圖像質量,提高數據的準確性。JEOL JEM 2100為不同的實驗提供了卓越的靈活性。它設有一個環境室，用於對極端環境中的樣品進行現場分析。如果樣品對汙染或溫度敏感，這是一個特別有用的特征，因為腔室可以用來控制這兩個因素。JEM 2100的附加內置X射線光譜能力對元素組成分析特別有利。X射線光譜儀可以產生各種材料的光譜，包括礦物、元素和化合物。JEOL JEM 2100提供精確的成像功能,放大倍數可達500,000X。這使得它非常適合捕捉微小物體的極其詳細的圖像，然後這些圖像可以用於進一步的分析。總體而言，JEM 2100是一款出色的掃描電子顯微鏡成像工具。它提供了卓越的成像分辨率,並結合了一系列出色的功能來對微小的物體進行詳細的研究。它的靈活性、內置特性和易用性使其成為世界各地研究人員的理想選擇。