二手 JEOL JEM 2100A #9355536 待售

JEOL JEM 2100A
製造商
JEOL
模型
JEM 2100A
ID: 9355536
Transmission Electron Microscope (TEM) Lattice image resolution: 0.1 nm STEM Image resolution: 0.2 nm FEG Schottky gun (ZrO2 / W) GATAN UltraScan 894 CCD GATAN 788 DigiScan II Control box Chiller with refrigerated circulation system GATAN Tridiem 863 EELS Detector MARUYAMA Rotary pump GOINO Tilt angle: ±30° GATAN 925 Single tilt holder Operating system: Windows XP, 32 bit JEOL UPS CL Aperture: 200 µm 100 µm 40 µm 10 µm OBJ Aperture: 120 µm 60 µm 20 µm 10 µm SA Aperture: 120 µm 50 µm 20 µm 10 µm JED-2300 EDS Detector Si (Li) (Currently non-functional).
JEOL JEM 2100A是一種業界領先的環境掃描電子顯微鏡(ESEM),設計用於各種成像、分析和樣品制備應用。顯微鏡具有從0.2kV到30kV的可調加速電壓、自動腔室真空控制器和自動氣體入口設備,具有廣泛的成像和分析能力。JEOL JEM 2100 A具有一個環境精確的標本支架,使系統能夠在標本室中施加受控的大氣壓。這對於成像潮濕、易碎、易凝結的標本如活細胞或生物是必不可少的。無球面和色差的柱後電子光學單元產生高質量的圖像,最高5.4 nm的高分辨率,沒有任何額外的透鏡。獲得專利的EverHigh Sensitivity電子檢測器和EverHigh Contrast Contrast Detail Enhancement技術使您能夠檢測最弱的信號,並可視化光束敏感樣品中的最細細節。OA-EBO5 BSE/SE圖像處理器包括幾種圖像處理和分析操作,如降噪、對比度增強、邊緣檢測和量化。JEM 2100A也可用於能量分散X射線分析(EDX)功能。EDX可以對樣品進行元素分析,同時保持其完整性。顯微鏡甚至可以用於透射電子顯微鏡(TEM),讓你有力量觀察最細細的較厚材料,並以高分辨率觀察相對較大的結構。JEM 2100 A配備了廣泛的硬件功能,如自動化舞臺、可編程樣板支架、高性能數字成像機和強大的控制器。這種用途廣泛、可靠的顯微鏡與各種儀器兼容,包括樣品制備階段、低真空塗層系統和冷凍圈。JEOL JEM 2100A旨在為材料科學、納米技術、生物學和醫學研究的廣泛應用提供無與倫比的性能和準確性。JEOL JEM 2100 A具有極高的分辨率和先進的分析能力,可幫助您實現無與倫比的研究效率。
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