二手 JEOL JEM 2100F #293628159 待售

JEOL JEM 2100F掃描電子顯微鏡是一種多功能、高性能的儀器，用於檢查各種材料的地形和詳細的組成輪廓。使用一系列電極，JEM 2100F產生的電子在從鎢絲發射出來之前被聚焦和加速。然後在樣品表面上掃描這些電子以創建一個微觀圖像。該2100F提供高分辨率和高對比度成像,具有出色的邊緣清晰度和景深。發射的電子束標準化為10-20 kV，允許更快的操作和更可靠的結果。電子束也有一個可調節的電流水平，允許一個範圍的應用。在分析方面，JEOL JEM 2100F可以提供元素檢測、成分映射和元素對比成像。該設備有一個專用的能量色散-X射線探測器，用於識別樣品不同部分的組成。此外，2100F還有一個可變壓力系統，用於減少非導電樣品成像時的樣品充電。該單元的圖像采集特征包括可變角度、可變放大倍率、可變聚焦等多種樣本圖像。內置的XY掃描儀允許用戶從單個視圖中選擇和更改掃描區域和分辨率。該2100F還具有可互換的二次電子、反向散射電子和熒光探測器，為不同的分析提供圖像對比。此外，這臺機器還可以進行現場樣品分析，並提供自動水冷和現場電氣偏置選項。此外，該2100F還可與各種自動和手動取樣器一起使用，以減少檢查時間並提高準確性。總體而言，JEM 2100F是一種高性能、通用且可靠的掃描電子顯微鏡。它提供了令人印象深刻的景深、高分辨率成像和可調電子束，使其適合一系列應用。