二手 JEOL JEM 2100F #9186593 待售

JEOL JEM 2100F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為材料研究提供高分辨率成像和分析能力。顯微鏡能夠成像放大倍數可達50000倍的物體，工作距離可達6.8毫米，最大工作距離和靈活性。它配備了包括單色電子槍、高速寬帶探測器、電子光學槍微透鏡和三維Feimaster Microprobe在內的一系列先進技術。此外，JEM 2100F利用了多種獨特的電子源技術，如低真空操作和可變壓力操作，以及冷凍斷裂還原氣體（FFRG）選項，從而改進了電子束的控制。顯微鏡具有先進的成像系統，包括反向散射成像（BI）、二次電子成像（SEI）和能量色散光譜（EDS），使用戶能夠執行各種先進的分析技術。再者，JEOL JEM 2100F配備了包括低劑量成像模式、數字讀出階段、高分辨率旋轉陽極和低角度視頻系統在內的擴展功能，讓用戶獲得最詳細準確的圖像。所有這些特性結合在一起，使JEM 2100F市場上最好的掃描電子顯微鏡之一，為材料研究提供了無與倫比的成像和分析能力。