二手 JEOL JEM 2100F #9248479 待售
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已售出
ID: 9248479
Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM)
P/N / Description
EM-21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism corrector unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole
EM-20G80 / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM-20531OLACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM-37115MON / Monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM-28022LP2 / Lift pole
SF6 / Gas charge tool
EM-48141D / Water chiller
A11J103SD002-08 II / Voltage regulator for 2100F BU
SP-2100F / Spare parts
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
- / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T System
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
- / GATAN Holder and digiscan function
- / GATAN 925 Double tilt holder
- / GATAN 925
- / GATAN 788 DigiScan.
JEOL JEM 2100F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率的數字成像儀器,能夠產生各種材料的極其詳細的圖像。利用聚焦電子束，它能夠放大高達一百萬倍，允許非常小特征的分辨率。JEM 2100F還提供了比其他電子顯微鏡更廣泛的分析能力，包括元素、晶體學和形態學分析。JEOL JEM 2100F具有獨特的功能,可為各種應用程序提供強大的成像平臺。它擁有集成的高分辨率數字成像設備，可以生成3D渲染圖像，並提供後處理能力以增強對比度。它還有一個可變壓力室，用於在不同條件下成像樣品，以及一個自動化的樣品制備階段。JEM 2100F利用了廣泛的電子柱技術，包括冷場發射和靜電透鏡。這樣可以優化系統,以不同的放大倍數生成更高質量的圖像,範圍從每米的一半到每米的百萬分之一。JEOL JEM 2100F還提供了廣闊的視野,可以有效地加載樣品和更快地成像。JEM 2100F還配備了集成的EDS X射線光譜儀，允許在高達720 Kev的加速電壓下進行元素分析。此功能與設備的高級成像功能相結合,使其能夠用於復雜的材料表征應用。最後，JEOL JEM 2100F是一個完全自動化的SEM，意味著它能夠長時間無人值守運行。這使得它成為實驗室的理想選擇，在實驗室中，一個操作員可以管理一系列實驗而不必擔心機器的性能。
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