二手 JEOL JEM 2100F #9249571 待售
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ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM)
Operated at 200 kV vacuum system for analysis
Part number / Description
EM 21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole piece
EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM 37115MON / Main monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM 28022IP2 / Lift pole
Essential accessories:
SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply)
EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger
EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410)
EM-30040(BS) / Beam stopper
EX-37200SMU / Swing mouse unit
DTM-961002 / Step down transformer for CWC
A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643)
SP-2100F / Spare parts kit
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
Battery / Car battery for EM-28220 UPS
STEM / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
GATAN / Holder and DigiScan function
- / Model 788 DigiScan II
- / GATAN Double tilt holder 925
Manuals.
JEOL JEM 2100F是一種高性能、高分辨率的掃描電子顯微鏡（SEM），它將強大、最先進的成像和分析技術與直觀、用戶友好的操作相結合。該系統具有廣泛的應用，從常規成像到3D和光譜學的可能性，提供無與倫比的成像和分析能力。該系統建立在CCD成像系統之上，在所有三種技術中提供真正的高分辨率成像；常規二次電子、反向散射電子和鏡頭內檢測。JEM 2100F具有高性能、高分辨率CCD傳感器,能夠以1nm及更高的分辨率生成豐富的詳細圖像和數據。先進的探測器，包括能量色散X射線探測器和總能量探測器，提供高質量的分析數據，並在元素分析和化學分析方面產生準確的結果。JEOL JEM 2100F還配備了多軸采樣級，使用戶可以方便地操縱和移動不同角度和視角的采樣，以及對較大區域進行成像。此外，內置數碼相機提供方便的樣品查看和檢查。高級功能，如雙高對比度微機械手和雙側加熱和冷卻板，為用戶提供進一步的靈活性和控制。總體而言，JEM 2100F由於其高性能、詳細成像和分析能力，是廣泛電子顯微鏡應用的理想選擇。其易用性和直觀的操作使其特別適合實驗室或研究環境，使其成為一種非常有價值的資產。
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