二手 JEOL JEM 2100F #9255945 待售

JEOL JEM 2100F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於提供高質量、高分辨率的成像和樣品分析。這款先進的SEM提供了更好的分辨率和對比度、更短的成像時間以及更強的樣品制備能力。其先進的電子光學提供了廣泛的成像和校正模式量身定制的需求苛刻的研究人員。JEM 2100F的電子源利用了帶有鎢絲的場發射肖特基槍，使其能夠快速高效地產生高能電子。加速電壓範圍為5至20 kV，精確分辨率為+/-0.1 V，電子電流高達0.9μA。試樣通過30kV-20μA光束以電子方式掃描，這種光束可根據成像目標以不同的分辨率操作。SEM還配備了快速掃描區域檢測器選項,可通過標準高分辨率（SHR）成像模式提高成像速度和分辨率。該系統的成像套件包括高角度和低角度成像，這為研究人員提供了一系列獲得樣本全圖像成像的可能性。此外,全自動導航（FAN）模式允許用戶快速準確地訪問樣品上任何感興趣的區域,而無需手動調整光束位置和圖像增強。FAN模式非常適合希望通過傳統的SEM技術更深入地探索感興趣的領域的用戶。JEOL JEM 2100F還配備了一系列先進的專用配件，包括遙控取樣更換單元、分離控制臺以及用於晶體結構分析的自動衍射成像系統。可選的高級光束對準模塊和自動采樣器模塊使用戶能夠通過計算機控制的輕松性對光束進行精確對準和操縱。JEM 2100F非常適合生物材料的橫截面和高分辨率成像以及納米材料的詳細分析等應用。JEOL JEM 2100F具有高分辨率成像和分析的能力，為研究樣品時要求完全控制和最高精度的研究人員提供了一個全面的掃描電子顯微鏡解決方案。