二手 JEOL JEM 2100F #9269139 待售

JEOL JEM 2100F是一種用於分析和成像應用的掃描電子顯微鏡（SEM）。這種設備的設計允許在各種領域進行例行成像，包括材料科學、生命科學、電子和冶金。顯微鏡配備了現有的FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission槍，在高能量和電壓範圍內操作，用於高分辨率成像和分析應用。JEM 2100F配備數碼相機和高分辨率成像系統，以低放大率提供清晰細致的圖像分辨率。FEI Everhart-Thornley Schottky場發射槍提供了增加的電子電流密度，從而提高了成像能力。此外，鏡頭內CsIS成像單元和鏡頭內電子加速度電壓調制允許改善圖像質量和電子槍控制。FEI Everhart-Thornley Schottky場發射槍可以在1-30 kV的能量範圍內操作，允許在低至高能量下操作，以適應特定的成像或分析要求。該槍具有由CsIS鏡頭內成像機啟用的高分辨率數字成像功能，能夠詳細捕捉表面特征和高分辨率的精細地形結構成像。JEOL JEM 2100F還提供一系列分析能力。能量色散X射線光譜（EDX）可用於元素分析，提供材料的快速光斑分析。另外，電子反向散射衍射（EBSD）可用於合金識別和晶體取向映射的生產。來自成像工具的數據也可用於樣品結構的精確3 D重建，從而實現體積結構的可視化。最後，JEM 2100F配備了5軸運動控制的大舞臺，提供了樣品的精確導航。加上各種樣品存根、支架和支架，顯微鏡可以靈活處理一系列樣品。一旦樣本登臺,DEIpree Focus-detection資產即可用於準確定位要進行成像和分析的領域。