二手 JEOL JEM 2100F #9300950 待售
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已售出
ID: 9300950
優質的: 2010
Transmission Electron Microscope (TEM)
With 2100A Electron gun
PHOENIXTEC S-15K UPS
TMC Stacis III 2100A Active inertial vibration cancellation system
GATAN Male 925 (2100A-R1) Single tilt holder
TEM Lattice image resolution: 0.1 nm
STEM Image resolution: 0.2 nm
Schottky FEG Gun (ZrO2/W)
GATAN UltraScan 894 CCD
GATAN 778 DigiScan II
EDS Detector: JED-2300 Si (Li)
EELS Detector: GATAN GIF Tridiem 863
Chiller: Refrigerated circulating system (Water)
DC-2000 Digital controller
MARUYAMA Rotary pump
Uninterruptible Power Supply (UPS)
Gonio angle: ±30°
CL Aperture:
1.200 um
2.100 um
3.40 um
4.10 um
OBJ Aperture:
1.120 um
2.60 um
3.20 um
4.10 um
SA Aperture:
1.120 um
2.50 um
3.20 um
4,10 um
Operating system: Windows XP
2010 vintage.
JEOL JEM 2100F是一種場發射掃描電子顯微鏡（FESEM），具有高堆積度和高分辨率相結合。它具有優越的條件組合，為可靠和可重現的圖像質量進行了優化。顯微鏡的設計是為了在低分辨率和高分辨率的研究和成像任何表面形態的最佳性能。JEM 2100F有一個10 keV FEG電子源，帶有一個柱內能量濾波器，頂部/底部的信道探測器，以及一個令人印象深刻的35毫米寬的標本室。FEG源保持非常低的發射率，因此在低分辨率或高分辨率成像時生成高度均勻的圖像。它還具有低光束電流，保持性能和穩定性。雙EDS檢測器確保快速準確的成分分析。顯微鏡裝有三維自動對準系統，自動將電子柱對準正弦線圈。這也使得在進行低分辨率或高分辨率成像時更容易保持正確的對準。大孔徑使得它非常適合成像具有均勻覆蓋範圍的大區域。高放大倍率與小工作距離的結合提高了圖像質量和分辨率。JEOL JEM 2100F是一種通用儀器,可用於多種應用。它設計用於成像各種標本類型，包括細胞和細菌、顆粒和纖維、薄膜和層狀結構，以及一系列材料，如金屬、陶瓷和復合材料。它是高分辨率成像、元素和結構分析的理想選擇。JEM 2100F提供卓越的圖像和分析精度、更快的掃描時間以及卓越的重復性。與單一探測器系統相比，雙探測器系統可實現更快的數據采集和更好的分辨率。此外，精細的聚焦和較小的光束步高特征確保了能夠獲得精確和高度詳細的圖像。總體而言，JEOL JEM 2100F是一種非常有價值的顯微鏡，用於對各種標本和材料進行成像和分析。它提供卓越的分辨率、高速成像和最大的穩定性,使用戶能夠快速準確地獲得所需的全面結果。
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