二手 JEOL JEM 2200FS #293748666 待售
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ID: 293748666
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM / EFTEM / EDS Mapping
Probe corrector
Energy filter
(2) OXFORD INSTRUMENTS SDD: 80 mm
Ultra scan camera.
JEOL JEM 2200FS是一種掃描電子顯微鏡,設計用於卓越的分辨率和圖像質量.它使用場發射電子源，一種特殊類型的電子槍，提供比熱電子槍更穩定的特性和更高的性能。該儀器提供高達0.05nm的高能分辨率,其1.2nm的光斑尺寸非常適合成像過程。其分析特性包括能量色散X射線探測器、能量損失光譜儀和一系列濾波器，允許用戶使用一系列技術分析樣品。此外，它還配備了帶有3D樣品支架的計算機控制系統，可以在三個獨立的軸上進行精確的運動。JEM 2200FS也是為安全而設計的，采用數控閉環幹泵系統，這意味著基本真空操作不會發生樣品降解。這加上其封閉的設計，提供了很好的樣品保護。顯微鏡附有一系列附加功能，如高對比度的SE和BSE階段，數字成像和自動調平，以及MIEF成像模式。它的數字成像單元也使得它能夠快速攪動出晶體結構圖像。總體而言，該儀器非常適合樣品表面成像、納米尺度測量、多晶材料研究以及金屬、半導體和有機材料的微觀分析。適用於材料科學、生命科學、工程等多個領域。由於其特點，它正日益受到研究人員和工業用戶的歡迎。
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