二手 JEOL JEM 2500SE #9373226 待售

JEOL JEM 2500SE是一種用於高分辨率成像和分析應用的掃描電子顯微鏡（SEM）。它配備了場發射槍（FEG）電子源，提供明亮的電子源供檢查分析。FEG電子源由雙極發射器陣列組成，延長了源的壽命，提供了可靠的質量圖像。顯微鏡配備了多種探測器，包括二次電子（SE）探測器、反向散射電子（BSE）探測器和能量色散光譜（EDS）探測器。所有檢測器都能提供出色的圖像質量和高靈敏度。JEM 2500SE具有先進的成像功能,可以對各種樣品進行成像。可調SE檢測系統允許用戶選擇最合適的成像模式，而較大的景深則讓用戶能夠捕捉同一標本內不同區域的圖像。預先對準的FEG電子源和Wolter光學在掃描和聚焦調整過程中保持圖像質量一致。可傾斜的樣品支架具有高殘留傾斜度和精確的圖像調制能力，可以觀察三維的精細結構。JEOL JEM 2500SE的封閉工作室使用戶能夠在不影響真空條件的情況下處理各種樣品。該腔室的設計目的是盡量減少對樣品和探測器的汙染，從而防止對樣品造成任何損害。數位控制器可精確調整加速電壓,即使在最大放大倍數下也能確保影像的最大解析度。而且，自動導航系統包括一個高性能攝像頭，便於在標本中導航。JEOL JEM 2500S能夠執行廣泛的分析技術,如粒子分析、元素分析、相位分析和元素映射。EDS檢測器精確地確定樣品的元素組成，而相位檢測器則允許用戶識別樣品的相位分布。此外，JEM 2500SE能夠利用其反向散射探測器對樣品進行勘測，並根據勘測結果生成報告。JEOL JEM 2500SE還配備了易於使用的軟件，可讓用戶訪問所有成像和分析參數。此外，其直觀的用戶友好界面和強大的程序使用戶能夠根據自己的特定需求定制顯微鏡設置。使用JEM 2500SE可以快速高效地進行所有數據采集和分析。