二手 JEOL JEM 3000F #9267278 待售

JEOL JEM-3000F是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），提供卓越的分辨率和性能。它有電子顯微鏡柱、腔室和光束偏轉設備、樣品級和探測器系統。該柱具有高頻率的2.3keV，加速電壓高達30千伏和場發射源與焦點控制。這為電子束算子提供了更大的靈活性，並允許更高分辨率的圖像。JEM-3000F室用惰性氣體加壓，以減輕樣品汙染的數量，並提供有利於清晰度的成像環境。該柱還具有光束偏轉單元，以提高掃描和成像樣品的穩定性和精度。示例階段以各種模式執行：傾斜/旋轉運動、光柵模式、區域掃描和點掃描模式。這些都有助於JEOL JEM-3000F的多功能性,並提供多種成像技術。探測器機裝有Gold S型二次電子探測器以取得地形影像，CEOS探測器則允許對局部表面成分進行高對比度成像。此外，JEM-3000F還擁有一個列內EDX裝置，該裝置配有5.2 μ m-100 μ m光圈、樣品前探測器和樣品後探測器。這允許元素識別，這對於使用顯微鏡觀察樣品的晶體學和原子結構識別很有用。由於JEOL JEM-3000F的高規格性質和眾多的特點，它是一個例外的SEM。高度的靈活性、采樣階段和檢測工具使其成為各種成像應用的理想選擇。JEM-3000F在成像和分析方面的多功能性使其成為科學家和研究人員的有用工具。