二手 JEOL JEM 3010 #9376084 待售

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製造商
JEOL
模型
JEM 3010
ID: 9376084
Transmission Electron Microscope (TEM) (5) Holders LaB6 Filament OXFORD EDS System Image acquisition: AMT 1K x 1K GATAN Orius camera Option: OXFORD Active noise canceler Resolution: 0.17 nm point 0.1 nm line Sample holders: Single holder Double tilt holder Beryllium holder Cryo holder Heating / Electric holder Accelerating voltage: 300 kV.
JEOL JEM 3010是為工業和研究應用而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它能夠將圖像分辨率降低到1.2nm,從而產生非常詳細的曲面和結構圖像。JEM 3010配備了大功率電子探針,可實現優越的景深成像和優越的信噪比,特別是對於低千伏應用。JEOL JEM 3010具有大的、高度穩定的polepiece和廣角電子槍組件,在廣泛的操作條件下提供優越的電子束質量和固體穩定性。這種設置使得JEM 3010能夠保持恒定的光束電流和加速電壓,即使在長時間的觀察期間也是如此。在儀器方面,JEOL JEM 3010配備了高速數字成像系統,能夠快速可靠地采集圖像。它還配備了一個集成的全自動無透鏡數字成像系統,減少了成像時間,有助於充分利用可用空間。在樣品和樣品分析方面,JEM 3010配備了自動化抽樣系統,可控制樣品在檢驗階段的定位。它還有一個集成的EDX檢測器,用來測量到達樣品的電子的能量和數量。這樣可以對樣品進行精確的元素分析,使得JEOL JEM 3010適合進行質量控制和過程監控。JEM 3010還提供了其他功能,例如內置視頻監視器、自動舞臺控制、內置粒度分析系統以及用於樣品蝕刻和原位電化學的可選附件。所有這些功能使JEOL JEM 3010成為工業和研究應用的強大而通用的工具。
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