二手 JEOL JEM 3200FS #293661300 待售

JEOL JEM 3200FS是當今最強大的掃描電子顯微鏡（SEM）之一。它提供了前所未有的性能級別,允許對樣品進行高分辨率成像和分析。JEM 3200FS采用高分辨率和高真空場發射槍（FEG），它允許卓越的分辨率、更快的操作、改進的信噪比以及高度敏感的成像和分析。該SEM的分辨率高達0.8nm,提供了從無機材料到生物樣品等多種材料的精湛圖像。它還提供二次電子、反向散射電子和其他分析信號，以允許成分和表面地形的更大分辨率。JEOL JEM 3200FS有一個SEM室，可以處理各種樣品，從小型生物樣品到大型工業樣品不等。該室有多個探測器，包括一個法拉第杯、一個二次電子探測器和一個反向散射電子探測器。這允許在一個系統中使用多種成像和分析技術。JEM 3200FS還具有可用於從遠程位置控制顯微鏡的數字接口。這有助於簡化操作以及改進數據收集和分析。這在處理必須小心處理的敏感材料時特別有用。最後，JEOL JEM 3200FS使用了一套用戶友好的軟件來提供強大的數據處理和可視化。該軟件旨在幫助自動化數據采集、操作和分析。總體而言,JEM 3200FS是一種用於成像和分析各種樣品的強大工具。它提供了前所未有的性能水平，使其成為任何科學或研究實驗室的寶貴工具。