二手 JEOL JEM 3200FS #293796361 待售

JEOL JEM 3200FS是一種場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），結合高分辨率成像，加上先進的分析技術，在單一儀器中。JEM 3200FS先進的成像和分析特點是由其產生極低像差電子束的冷場發射電子源和革命性的新信號通道設計所實現的。這使得JEOL JEM 3200FS能夠獲得高分辨率圖像和優異的分析結果。冷場發射源還使JEM 3200FS能夠最大限度地減少環境振動和漂移，最終實現成像穩定性。JEOL JEM 3200FS提供多種檢查模式，包括SE（二次電子）成像、BSEM（反向散射電子）映射、衍射對比成像、陰極發光（CL）和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）。它還能在無碳塗層、低真空（LV）模式下難以成像的真實SE模式下對非導電樣品成像。JEM 3200FS的分析能力包括能量色散X射線光譜（EDS）、X射線熒光（XRF）映射、電子反向散射衍射（EBSD）、EDS化學成像、能量濾波成像（EFI）、氫探針分析（HPA）。JEOL JEM 3200FS配備了全方位的腔室配件，包括全系列的ESD/TEM支架、法拉第杯、RF提取器和靜電卡盤，可以容納不同尺寸和形狀的樣品。腔室附件保證了最高效、最精確的測量，為各種成像和分析技術提供了理想的平臺。JEM 3200FS具有直觀的圖形用戶界面（GUI）和集成的「智能控制」自動操作。這使得用戶可以毫不費力地執行復雜的實驗，並用簡單的命令簡化對大量數據的處理。JEOL JEM 3200FS還提供了一系列與計算機相關的功能，包括實時操作控制、功能選項的屏幕預覽以及自動錄制和播放實用程序。除了這些功能外,JEM 3200FS還提供了一個網絡系統來支持多個用戶。總體而言，JEOL JEM 3200FS是一種多功能、功能強大的掃描電子顯微鏡，將高分辨率成像和高級分析能力結合在一個儀器中。高分辨率、高景深的先進成像技術使JEM 3200FS研究最復雜樣品結構和組成的理想工具。