二手 JEOL JEM 3200FS #9281736 待售

JEOL JEM 3200FS是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），利用冷場發射電子槍獲取高分辨率圖像和數據。冷場發射槍使技術隨著時間的推移保持穩定，使其能夠傳遞一致和可靠的圖像。SEM從單個納米的樣品中產生高分辨率圖像,並提供入射電子和二次電子的自動控制,以實現最佳分辨率和降噪。為了最大限度地減少充電效果，SEM采用了集成的低真空系統。再者，三個圓形電子槍透鏡利用磁性電子光學器件，在提供出色的圖像對比度和寬廣的景深的同時，實現更大的分辨率。JEM 3200FS具有分析雙束掃描電子顯微鏡（DB-SEM）的多種特點，包括高壓速樣傳輸室、高速成像選項和樣品級控制。這些功能使SEM能夠對各種示例組件（如圖層、邊和邊界）進行成像。SEM可用於分析高分辨率非破壞性3D分析、電子反向散射衍射（EBSD）、電子束感應電流（EBIC）和能量色散X射線光譜（EDS）技術。EDS使元素分析更簡單,因為它有助於將元素組件檢測和量化到0.1%或更少。JEOL JEM 3200FS還能夠進行線和角度掃描、蜂窩映射和圖像縫合。顯微鏡配有直觀的圖形用戶界面，包含各種操作菜單，方便用戶訪問各種設置和參數。該軟件還可用於遠程操作和遠程數據采集。總體而言,JEM 3200FS提供高分辨率成像、雙束掃描電子顯微鏡的高級功能以及用於遠程操作和數據采集的直觀軟件。結合其冷場發射電子槍，SEM實現可靠和一致的圖像。因此，這項技術非常適合在納米級成像各種樣品並進行各種元素分析。