二手 JEOL JEM 3200FS #9293906 待售

JEOL JEM 3200FS是一種超高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），用於成像各種材料。該儀器是在各行業的貢獻下開發的，以提高成像能力。由於其高分辨率和易用性,它為用戶提供了無與倫比的性能。JEM 3200FS提供多種成像模式，包括標準SEM成像、低真空模式金相和反向散射電子（BSE）成像。它還擁有較大的掃描區域，並且能夠實現比其前輩更高的放大倍率。JEOL JEM 3200FS配備了能夠變壓和加速電壓的野外發射槍（FEG）。這樣可以提高系統的效率,提高圖像分辨率和樣品安全性。此外，FEG能以更高的電子束電流成像，提供更好的薄層檢測以及圖像中更大的對比度。儀器還配備了包括雙軸測角儀和自動對焦系統在內的高分辨率光學器件。這些在獲取圖像時提供了精確的控制和更高的精度。SEM還具有先進的暗場和延遲成像功能,能夠快速準確地獲得高對比度圖像。JEM 3200FS是一種可靠而強大的工具,旨在獲取廣泛的圖像信息。它提供高分辨率成像和廣泛的功能,使其成為任何研究的理想選擇,尤其是在材料科學等領域。