二手 JEOL JEM 5510 LV #293602478 待售

JEOL JEM 5510 LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種能夠進行極高分辨率成像和表面分析的儀器。對於希望在各種粒子和材料類型的成像中實現無與倫比的細節的研究人員來說，這是理想的選擇。JEM 5510 LV具有廣泛的功能,使研究人員能夠根據特定應用自定義其成像。JEOL JEM 5510 LV的高分辨率成像是通過采用鏡內柱設計和高亮度電子源實現的。這個電子源，加上動態聚焦系統，提供了一個令人難以置信的大範圍放大從10X到2,000,000X。JEM 5510 LV還提供了掃描、二次電子成像、反向散射電子成像等一系列成像模式。其他成像功能包括4軸標本級、4象限檢測器、自動Z距離和用於大規模成像和傾斜系列的雙軸傾斜。JEOL JEM 5510 LV還具有一系列利用強大成像的先進功能，包括先進的能量色散X射線光譜（EDS）和帶有Elemental檢測的自動線掃描映射。利用JEM 5510 LV的EDS，研究人員能夠分析元素分布，確定微米級和亞微米級的異質性。利用Elemental檢測的自動線掃描映射,可以輕松創建地形分布並識別每個像素中存在的元素。為了優化粒子圖像和分析，JEOL JEM 5510 LV配備了廣泛的對比度增強工具。JEM 5510 LV包括自動汙名和散光對比、自動汙名檢測和最小化以及各種自動信號增強工具等功能。此外，JEOL JEM 5510 LV可以與先進的顯微鏡系統集成，如電子反向散射和能量色散X射線映射。JEM 5510 LV掃描電子顯微鏡是需要高質量圖像和詳細粒子和材料分析的研究人員的絕佳選擇。憑借其廣泛的特點，用戶可以以無與倫比的細節探索他們在納米和微米層面上的標本。