二手 JEOL JEM 5510 LV #9302336 待售

JEOL JEM 5510 LV
製造商
JEOL
模型
JEM 5510 LV
ID: 9302336
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten.
JEOL JEM 5510 LV是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它能夠產生高分辨率、詳細的生物和非生物標本圖像。它具有超高真空設計的大腔室,可實現穩定的成像環境。大腔室與低真空設計的獨特結合,使其成為觀賞和研究不同類型標本(生物和非生物)的理想工具。顯微鏡裝有可變光束電流和探測器設備。這允許用戶調整放大倍率、字段大小、焦點和掃描參數以適應不同的樣本要求。該檢測器系統采用廣角檢測器(WAD),可實現廣角和低壓成像(1-2千伏)。探測器單元還支持長工作距離(LWD)探測器,它允許高分辨率成像。JEM 5510 LV具有廣泛的能力,如低真空成像(LV)、分析電子顯微鏡、電子反向散射衍射(EBSD)、能量色散X射線光譜(EDS)和能量損失光譜(ELS)。它還能夠做特殊的成像技術如低溫-SEM、串行塊面SEM和低壓斷層掃描。顯微鏡也可用於快速3-D原位成像服務。這包括3-D 微CT、微低溫FIB-SEM和納米尺度3-D成像。這些服務用於檢測小缺陷,分析微觀結構,並對納米材料進行原位表征。顯微鏡用戶友好,軟件包便於控制SEM。這些軟件包還包括粒子識別、自動化能力、樣本調度和模式識別等功能。JEOL JEM 5510 LV是掃描電子顯微鏡的主力。憑借其先進的特性和性能,JEM 5510 LV為用戶提供了一臺滿足各種用戶需求的完整機器。其多功能性、圖像質量和可靠的性能使其成為任何實驗室的理想選擇。
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