二手 JEOL JEM 9310 #293671410 待售

JEOL JEM 9310
製造商
JEOL
模型
JEM 9310
ID: 293671410
優質的: 2008
Focused Ion Beam (FIB) system 2008 vintage.
JEOL JEM 9310是一種掃描電子顯微鏡(SEM),在多種應用中為研究人員提供高分辨率成像。這臺儀器配備了兩個高性能電子槍系統和一個可變壓力柱,使用戶可以調查分辨率和質量都優越的樣品。可變壓力柱可確保使用UNCD/CNT材料和其他敏感樣品所需的各種實驗壓力(最多10-4Torr個)。JEM 9310還配備了提供幹凈、低對比度信號的冷場發射系統,確保高保真圖像具有無與倫比的清晰度和細節。此SEM可用於廣泛的成像應用,包括表面地形、相移、成分映射、3D圖像斷層掃描、樣品分析等等。憑借其高分辨率成像能力,JEOL JEM 9310使研究人員能夠以二次電子模式下1.5 nm、反向散射電子模式下7 nm的分辨率可視化極精細的特征。此外,該儀器還提供高級位置校正和圖像提升選項,以確保最高質量的圖像。JEM 9310還配備了幾個外圍組件,如分析轉移目標、標本照相機、光譜系統等等,讓研究人員輕松進行多種實驗。它的緊湊設計和低廉的運營成本使得這種SEM成為各種規模實驗室的絕佳選擇。總而言之,JEOL JEM 9310是尋求以卓越的分辨率和準確性獲得高質量圖像的研究人員的絕佳選擇。
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