二手 JEOL JEM 9320 #293758760 待售

製造商
JEOL
模型
JEM 9320
ID: 293758760
Focused Ion Beam (FIB) system.
JEOL JEM 9320是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),為材料科學、生命科學和納米技術的廣泛應用提供高分辨率成像能力。JEM 9320憑借其多才多藝的設計和尖端的技術,是一款動力強大的儀器,能夠對各種樣品的微小型和納米級結構提供詳細的見解。JEOL JEM 9320的主要功能之一是其高分辨率成像功能,它使用戶能夠以卓越的清晰度和細節可視化樣品。該儀器配備了高亮度電子源和先進的電子光學,使其能夠達到高達0.4納米的空間分辨率。這一分辨率水平使得觀察小於可見光波長的特征和結構成為可能,使得JEM 9320成為研究納米級材料和器件的理想選擇。除了其令人印象深刻的成像能力外,JEOL JEM 9320還提供了一系列分析技術,可以提供有關樣品組成、形態和特性的寶貴信息。該儀器配備了多個探測器,包括二次電子探測器、反向散射電子探測器和能量色散X射線光譜(EDS)探測器,使用戶可以對樣品進行元素分析和制圖。成像和分析能力的結合使JEM 9320成為一種通用工具,用於表征各種材料,從金屬和半導體到生物樣品和聚合物。JEOL JEM 9320還具有先進的自動化和軟件控制系統,這些系統簡化了成像和分析過程,使用戶可以輕松快速高效地獲得高質量的數據。該儀器配備了方便用戶的軟件接口,便於導航和控制成像參數,並配備了數據分析工具,使用戶能夠以明確和有意義的方式處理和可視化其結果。此外,JEM 9320還可以定制,增加附件和選項以增強其能力,例如用於研究冷凍樣品的冷凍轉移系統或用於在受控溫度和濕度條件下進行實驗的環境室。在樣品處理和操作方面,JEOL JEM 9320提供了一系列容納不同類型標本的選項。該儀器具有一個大的腔室大小,可以容納各種大小和形狀的樣品,以及多個舞臺選項,包括能夠實現自動樣品移動和導航的機動舞臺。此外,JEM 9320還配備了先進的樣品制備工具,如濺射塗層和碳塗層,這對於優化樣品傳導率和圖像質量至關重要。總體而言,JEOL JEM 9320是一種最先進的掃描電子顯微鏡,結合高分辨率成像、先進的分析能力和用戶友好操作,為研究人員和科學家提供探索微觀和納米世界的強大工具。無論是用於學術研究、工業質量控制還是材料特性鑒定,JEM 9320都能提供卓越的性能和多功能性,使其成為任何實驗室或設施中的寶貴資產。
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