二手 JEOL JEM F200 #293597811 待售

JEOL JEM F200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供產生高分辨率成像的場發射電子源，允許以高達5納米的分辨率放大樣品結構的圖像。現代的SEM設備JEM F200提供了廣泛的功能和選項,使其適合各種應用和樣品。JEOL JEM F200的加速度電壓高達300 kV，工作距離為3 mm時分辨率為5 nm。一種柱內、冷凝器-透鏡光束消光系統，利用加速電壓、檢測器選擇和光束消光的組合，為物體的光束分析提供動態對比度。光束電流可以由0.1 pA調整為20-40 nA，而低電流1-2 pA則可以使用高保真槍機電路。JEM F200利用電子光柱，包括消色差場和環形場作為標準。四個內置探測器可用，包括一個Everhart-Thornley二次電子探測器、一個鎢/rhenium反向散射電子探測器、一個透射能量探測器和一個BSE探測器。JEOL JEM F200提供低標本漂移的快速成像,並且可選的點掃描級允許獲取納米級圖像。一個自動化的采樣級允許方便高效的采樣加載，而多位置的針架采樣級允許方便的樣品定心。另外還有一個暗室端口蓋和一個槍室蓋，供在超低真空環境中工作的用戶使用，例如用於Freeze-Fracture Replication。JEM F200還包括各種自動化功能,例如相移掃描和延時采集。內置計算機具有高速單處理器,可提供多種成像模式、自動操作和控制設備參數。溫控機提供+/-0.5攝氏度精度和全自動化的溫度控制。總體而言,JEOL JEM F200具有高精度成像和自動化操作,非常適合各種應用,包括生物、工業和研究環境。該工具能夠在高達5納米的範圍內產生極高分辨率的成像,並憑借其內置的探測器、自動采樣級和自動化功能提供出色的功能。