二手 JEOL JFIB 2300 #293671426 待售

JEOL JFIB 2300是一種聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），用於分析材料和產生高分辨率的橫截面圖像，用於材料科學研究。它可以用於廣泛的應用，如絕緣體、金屬、生物材料和納米材料的分析和成像。JFIB 2300將集成的300kV FIB柱與場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）結合起來，高效準確地成像分析材料。它有一個超高分辨率的離子柱，能夠將離子加速到300kV，並且有一個聚焦離子束（FIB），分辨率為50到200nm。這對於納米結構的成像和表征非常理想。JEOL JFIB 2300有多種配件，包括離子源、二次電子探測器、高角度環形暗場探測器（HAADF）、反向散射電子探測器（BSE）、模擬和數字圖像處理器，以及不同的表面處理系統。它還配備了一個冷凍樣品支架，用於進行冷凍壓裂和冷凍微加工。系統配備了JVP軟件包，允許高速處理圖像，用於圖像對比度增強和圖像銳化。它能夠通過結合銑削和成像，以及微斷層掃描和圖像縫合來產生三維圖像。JFIB 2300是一款功能強大、用途廣泛的FIB-SEM工具。其高分辨率使得它成為納米尺度結構成像和表征的理想選擇。適用於廣泛的科學和工程研究應用，如納米級科學、材料科學、生物樣品分析等。