二手 JEOL JFIB 2300 #9207231 待售

JEOL JFIB 2300是一種掃描電子顯微鏡（SEM），可以讓研究人員詳細研究樣品的微觀形態。顯微鏡由一個聚焦離子束（FIB）和一個掃描電子束（SEB）共同作用，創造出高度詳細的圖像。FIB具有廣泛的可調整性設置,允許用戶撥入亮度並放大到低至1nm的級別。離子束提供了從表面特征到原子水平的非常高分辨率的地形掃描，SEM提供了從表面到樣品中10 μ m深度的優秀圖像。JFIB 2300提供了廣泛的功能,使其成為實驗室中必不可少的工具。顯微鏡能夠從樣品表面生成高分辨率的3D圖像，這對於檢查非常小的特征非常重要。顯微鏡的雙光束使它能夠同時獲取樣品和背景的圖像，從而提高對比度和分辨率。此外，還可以調整顯微鏡的成像和傾斜控制系統，以快速準確地生成高度詳細的圖像。顯微鏡的高精度歸功於其自動聚焦系統和廣泛的檢測器幾何設置。這使得研究人員能夠以極高的精確度觀察最微小的細節。此外，顯微鏡還配有一個柱內能量濾波器，可用於優化能量譜以及提高SEM圖像的對比度和分辨率。JEOL JFIB 2300提供的高端自動化標本制備功能也是研究實驗室的寶貴資產。它包括一個自動化的樣品級，使顯微鏡能夠旋轉、傾斜和自動聚焦樣品的不同區域。這樣可以同時對多個區域進行成像。此外，自動化的SEM成像技術，如背面成像，使顯微鏡能夠消除可能幹擾成像過程的表面和地下特征。JFIB 2300是一種極為有效的掃描電子顯微鏡，用於納米級成像樣品。它的用戶友好型設計使其成為研究人員的理想工具，他們希望以非常高的準確性和細節來評估復雜的生物和材料樣品。圖像的高分辨率和柱內能量濾波器為研究人員提供了一種可靠有效的方法來探索其標本的微觀特征。