二手 JEOL JFIB 2300 #9409370 待售

製造商
JEOL
模型
JFIB 2300
ID: 9409370
優質的: 2002
Focused Ion Beam (FIB) system 2002 vintage.
JEOL JFIB 2300是一種掃描電子顯微鏡,設計用於觀察和分析納米技術中的納米結構。利用先進的電子光學器件,生成分辨率極高的數字圖像。它的光束電流在0到300 pA之間變化,能夠生成100 nm分辨率的曲面圖像。JFIB 2300包含一個能量色散光譜儀(EDS),它允許化學成分被識別。該顯微鏡還包含一個電子反向散射衍射(EBSD)單元,它允許用戶獲取樣品晶體學取向的信息。磁性偏轉器確保電子束精確對齊,內置的分級孔徑提供了獲取放大倍率圖像的能力。JEOL JFIB 2300溫度穩定,耐振,使用壽命長.它還包含安全信號和防靜電板等若幹安全功能,以確保安全操作。該顯微鏡采用高精度壓電執行器和閉環定位系統,用於精確的舞臺運動和樣品定位。用戶界面具有廣泛的選項和內置顯示器以及按鈕和鼠標,以便於操作。此外,接口還包括網絡連接,允許它與外部計算機通信以進行數據分析。總體而言,JFIB 2300是一種非常強大的掃描電子顯微鏡,能夠產生詳細和精確的納米結構圖像。其多種特性使其成為可靠的成像工具,使用戶能夠輕松地識別樣品的物理和化學結構。
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